西门子EDA良率学习解决方案：利用海量测试数据提升芯片良率与生产效率
西门子EDA的良率学习方案在芯片制造中攻克了许多难题，受到了业界的极大关注。那么，这个方案究竟是如何实现这一成就的？ 海量数据搜集 西门子EDA搜集了众多测试与诊断信息，用于提升产品良率。在众多客户资料中，包括逻辑测试数据在内的ATPG扫描数据均被收录，并进行了详尽的分析。以某芯片制造商为例，这些数据全面揭示了生产流程的多个环节，为后续的数据分析及问题排查奠定了坚实基础。 通过对数据的深入剖析，客
2025年1月23日
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